Рассматриваются инновационные направления в оптических измерениях и исследованиях оптических систем, приведены современные методы контроля при формообразовании асферических поверхностей. В пособии показаны новые аппаратурные и программные решения, ставшие базой для комплекса компьютеризированных методов оптического контроля и исследований асферических поверхностей. Показаны новые пути применения компьютеров в оптическом приборостроении, при измерениях и контроле аберраций и качества прецизионных систем, включая системы для нанотехнологий. Пособие направлено на подготовку студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки 200200 ''Оптотехника'' и оптическим специальностям, бакалавров, магистров и дипломированных специалистов